漏电微光显微镜-探针台PM300-深圳市易捷测试技术有限公司

漏电微光显微镜-探针台PM300-深圳市易捷测试技术有限公司
EMMI 微光显微镜是一种效率较高的失效分析工具，提供高灵敏度非破坏性的故障定位方式，可侦测和定位非常微弱的发光（可见光及近红外光），由此捕捉各种元件缺陷或异常所产生的漏电流可见光。
      EMMI 侦测对应故障种类涵盖ESD，Latch up，I/O Leakage，junction defect，hot electrons，oxide current leakage等所造成的异常。

	微光显微镜系EMMI 配置


	探测器：


	**工作温度较低可达-65摄氏度


	**C-CCD：1024 X 1024/512X512像素


	** InGaAs: 640 x 480/ 320 x 256像素


	6/8/12英寸针台：


	**平台高度调整范围：20mm


	**快速卡盘移动


	**X/Y方向精细调节


	NIR光学系统：


	**NIR显微镜，2.5x、5x、20x、50x、100x镜头可选


	**高精度电动X/Y/Z显微镜支架


	**X/Y方向移动范围：>50mm,分辨率<0.2umz


	**方向移动范围：>80mm,分辨率<0.2um


	


	


.易捷测试技术___漏电微光显微镜-探针台PM300-深圳市易捷测试技术有限公司

深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT）。 是中国半导体测试和射频微波测量领域系统解决方案供应商.
       公司成立于2011年，总部设在深圳 ，并在北京、南京、成都、西安、重庆、中国香港等地都设有全资业务办事处。客户主要涵盖:国家颇具影响力的企业、研究所、大学教学研究机构和大型工厂等。公司成立至今，先后引进美国、欧洲、日本等**设备与技术，涉及的设备包括：各种微波射频器件，配件，系统集成，测试仪器。技术服务包括：测试技术咨询、系统集成解决方案、建模等服务。其中，系统集成解决方案服务是我们的一大特色，公司紧跟趋势，拥有世界良好的测试系统解决方案，包括：微波THz在片方案、高低温环境下的EMMI测试、5G系统的计量测试、硅光在片测量、X光辐照总剂量在片测试系统等。
       深圳市易捷测试在中国半导体测试和微波领域有专业的**表现，公司已经与多家世界着名的半导体器件和精密测试领域的品牌厂商签订了合作代理协议。这些**品牌包括： **探针台系统制造商CASCADE；世界*微波组件和测试系统制造商MAURY；**良好的测量仪器制造商KEYSIGHT；世界上较好的射频和微波仿真模型品牌Modelithics；日本HANWA高压电源仪表、TOTOKU电缆等。
       深圳市易捷测试拥有一批在电子装配、电子封装及半导体行业有丰富经验的专业技术工程师团队，我们的团队在不断提升整合能力的同时，不仅能为客户提供高质量和*的服务，也能根据客户的实际生产情况制订“量体裁衣”式的系统应用解决方案。
       我们的使命和愿景是成为半导体测试和射频微波领域较好的服务供应商。