• 厦门1734-IB4通讯模块

    厦门1734-IB4通讯模块

  • 2017-11-24 14:12 107
  • 产品价格:面议
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    产品描述
    厦门1734-IB4通讯模块
    
    1734-AENTR
    1734-APB
    1734-ARM
    1734-CTM
    1734-EP24DC
    1734-EPAC
    1734-FPD
    1734-IA2
    1734-IA4
    1734-IB2
    1734-IB4
    1734-IB4D
    1734-IB8
    1734-IB8S
    1734-IE2C
    1734-IE2V......
    1734-IE4C
    1734-IE4S
    1734-IE8C
    1734-IJ
    1734-IK
    1734-IM2
    1734-IM4
    1734-IR2
    1734-IR2E
    1734-IT2I
    1734-IV2
    1734-IV4
    1734-IV8
    1734-OA2
    1734-OA4
    1734-OB2
    1734-OB2E
    1734-OB2EP
    1734-OB4.......
    1734-OB4E
    1734-OB8
    1734-OB8E
    1734-OB8S
    1734-OE2C
    1734-OE2V
    1734-OE4C??
    1734-OV2E
    1734-OV4E
    1734-OV8E
    1734-OW2
    1734-OW4
    1734-OX2
    1734-PDN
    1734-RTB
    1734-RTB3
    1734-RTBS
    1734-SSI
    1734-TB
    1734-TB3
    1734-TB3S
    1734-TBS
    1734-TOP
    1734-TOP3
    1734-TOP3S
    1734-TOPS
    1734-VHSC24
    1734-VHSC5
    1734-VTM
    1794-ACN15
    1794-ACNR15
    1794-ADN
    1794-ADNK
    1794-AENT
    1794-AENTR
    1794-IA16
    1794-IA8
    1794-IA8I
    1794-IB10XOB6
    1794-IB10XOB6XT
    1794-IB16
    1794-IB16D
    1794-IB16XOB16P
    1794-IB16XT
    1794-IB32
    1794-IB8
    1794-IC16
    1794-ID2
    1794-IE12
    1794-IE4XOE2
    1794-IE4XOE2XT
    1794-IE8
    1794-IE8H
    1794-IE8XOE4
    1794-IE8XT
    1794-IF2XOF2I
    1794-IF2XOF2IXT
    1794-IF4I
    1794-IF4IXT
    1794-IF8IH
    1794-IF8IHNFXT
    1794-IG16
    1794-IH16
    1794-IJ2
    1794-IJ2XT
    1794-IM16
    1794-IM8
    1794-IP4
    1794-IR8
    1794-IRT8
    1794-IRT8XT
    1794-IT8
    工业电路板维修技巧
    不能过分依赖在线测试仪 
    1.功能测试不能代替参数测试 
    2. 功能测试仅能测试到器件的截止区,放大区和饱和区,但无法了解此时的工作频率的高低和速度的快慢。 
    3. 对数字芯片而言,仅知道有高低电平的输出变化,但无法查出它的上升和下降沿的变化速度。 
    4. 对于模拟芯片,它处理的是模拟的变化量。其受电路的元器件的分布,解决信号方案的不同的影响,是错综复杂的。就目前的在线测试技术,要解决模拟芯片在线测试是不可能的。所以,这项功能测试的结果,仅能供参考。 
    5. 大多数的在线测试议,在对于电路板上的各类芯片进行功能测试后,均会给出“测试通过”或“测试不通过”。那么它为什么不给出被测器件是否有问题呢?这就是这类测试仪的缺撼。因为在线测试时,所受影响(干扰)的因素太多。要求在测试前采取不少的措施(如断开晶振,去掉CPU和带程序的芯片,加隔离中断信号等等),这样做是否均有效,值得研究。至少,目前的测试结果有时不尽人意。 
    6. 了解在线测试仪的读者,均知道有这么一句行话。“在线测试时不通过的芯片不一定是损坏的;测试通过的芯片一定是没有损坏的。”它的解释为,如器件受在线影响或抗干扰时,结果可能不通过,对此不难理解。那么,是否损坏的芯片在进行测试时,均会得出“不通过”呢?回答确实不能肯定。笔者与**均遇到过,明明芯片已损坏了(确切地说换上这个芯片板子就不工作了),但测试结果是通过的。*解释为这是测试仪自身工作原理(后驱动技术)所致。故此我用,实际测试效果等同于“准离线”,测准率将获得很大提高。 
    3、用ASA-VI曲线扫


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