**厂家生产！寿命老化实验箱 寿命老化试验机 寿命老化实验机

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产品信息
仪器名称：寿命老化实验箱 
仪器**：汇泰华


主要用途：
寿命老化实验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验。

 
我们公司主营产品：可程序恒温恒湿（高低温）试验机，三箱蓄温式冷热冲击试验机，两箱式移动式冷热冲击试验机，组合步入式恒温恒湿室（环境试验室），紫外光加速老化试验机，精密烘箱，模拟运输试验机，盐水喷雾试验机，跌落试验机，蒸汽老化试验机。
 
一、仪器概述
寿命老化实验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示，PID+SSR控制，白金电阻温度传感器（PT100），解析度0.1℃，。
 
二、机器尺寸：
1.工作室尺寸: 500*400*170 mm      （W×H×D）
2.外箱尺寸:600×500×420 mm   （W×H×D）
3.内外箱材质：SUS304**不锈钢
4.保温层：PV发泡胶
5.升温时间：大约40分钟
6.控制功能：PID+SSR.数字显示
7.蒸气温度：97℃
8.计时功能：1-999分钟/时
9.报警功能：附时到报警功能.时间到达后切断电源
10水位控制：附水箱自动补水
11.电源：220V 3KW内外箱体材质：SUS304#**不锈钢板内外箱体材质：SUS304#**不锈钢板
 
三、结构特点
老化箱整体不锈钢SUS #304 HL制成，操作设定简易微电脑数位LED控制，具时间规划功能，较大可设定9,990Mins多重**温保护／缺水切电热等*装置。零件、连接器被动元件，半导体接脚高温高湿氧化试验。金属接脚沾锡性试验加速老化试验。采用式PID+SSR温度控制器，同时具有时间计时功能，较大可设定999分式无限

测量对象 : 适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业 ;
测量范围 : 电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验 ;
适用范围 : 电子连接器;半导体IC;晶体管; ;
电源 : 220V ;
工作室尺寸 : 100x30x380（mm） ;
功率 : 2500（W） ;
温度范围 : RT~98（℃）（℃） ;
材质 : **不锈钢 ;
类型 : 蒸汽老化箱 ;
型号 : HTH-ZQ-200 ;
** : 汇泰华 ;
加工定制 : 是 ;