WaveSensor波前传感器

WaveSensor波前传感器采用哈特曼—夏克传感器的测量原理研制而成，配备**的操作分析软件。可用于激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检测、介质扰动对光束质量影响的检测、大型球面镜镜面面型精度的检测等。WaveSensor波前传感器可获得丰富的光束质量及空间、时间信息，是深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影响因素的有力手段。

应用范围：
常规光学元件面型检测

大口径光学元件检测

大型球面镜镜面面型精度的检测

光学系统像差检测

激光输出波面检测

激光光束质量及其动态变化的诊断

介质扰动对光束质量影响的检测

自适应系统的波前探测
产品型号和技术规格：
产品型号	WaveSensor?150	WaveSensor?100	WaveSensor?80	WaveSensor?60
孔径尺寸	15mm×15mm	15mm×15mm	6.6mmx8.8 mm	4.8mmx6.4 mm
阵列透镜数	138×138	100×100	60 x 80	45 x 60
动态范围	2000 λ	> 1500 λ	> 1000 λ	> 800 λ
倾斜测量灵敏度	< 1μrad	< 1μrad	< 1μrad	< 1μrad
**精度(RMS)	< λ/20	< λ/20	< λ/20	< λ/20
重复性(RMS)	< λ/200	< λ/200	< λ/200	< λ/200
波长	405-1100nm（可扩展至350nm）
接口类型	IEEE1394B
产品尺寸	74 mm×100 mm×144 mm
产品重量	1000 g	1000 g	800 g	800 g