超声波测厚仪px7 苏州实谱信息科技有限公司

x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用**EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
产品优势：
微小样品检测：小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）
变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm
的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也测量

仪器配置：
1.微焦X射线发生器
2.光路转换聚焦系统
3.高敏变焦测距装置
4.半导体冷却硅漂移SDD探测器
5.的数字多道分析
6.高精度微型移动滑轨
7.标准片Ni/Fe 5um
8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um

随着科技的发展，越来越多的行业开始采用镀金表面处理，用于提升产品的综合质量。电镀金镀层耐蚀性强，导电性好，易于焊接，耐高温，并具有一定的耐磨性(如掺有少量其他元素的硬金)，有良好的抗变色能力，同时金合金镀层有多种色调，在银上镀金可防止变色。并且镀层的延展性好，易抛光，故常用作装饰性镀层，如镀饰、钟表零件、艺术品等；也广泛应用于精密仪器仪表、印刷板、集成电路、电子管壳、电接点等要求电参数性能长期稳定的零件电镀，但由于金的价格昂贵，应用受到一定限制。
技术难点：
故此镀金产品对于镀层的管控为的严格，然而由于镀层很薄，能量弱，稳定性差，想要良好的管控成本及产品质量，就需要一台性能很好的光谱仪进行检测分析。
XAU-4CS可满足精密电子类客户对于薄金纳米级厚度的管控，实现检测同一个点的薄金厚度，差稳定在1个纳米。

的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限
高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm²探测器
光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置
多准直器自动切换
国内通用电子测试测量仪器企业的技术水平与国外优势企业存在一定差距，尤其是数字示波器以及任意波形发生器产品，国外企业的产品带宽和输出频率比国内的水平还高很多。这种档次划分标准主要依据产品技术门槛、批量生产、成功市场化的难易程度进行划分，综合考虑了我国通用电子测试测量仪器的整体产业现状，可以作为在当前阶段全国范围内对行业内企业的参考标准。

苏州实谱信息科技有限公司是一家以X荧光光谱仪为**,集多种检测仪器的研发、生产、销售于一体的高科技企业。