• 深圳数字源表收购 出售泰克370 TEK370A晶体管测试仪

    深圳数字源表收购 出售泰克370 TEK370A晶体管测试仪

  • 2024-03-20 07:20 2
  • 产品价格:面议
  • 发货地址:广东省深圳市宝安区包装说明:不限
  • 产品数量:不限产品规格:不限
  • 信息编号:116308626公司编号:4235375
  • 彭金红 经理
    13530362750 (联系我请说明是在阿德采购网看到的信息)
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    产品描述
    高价收个人处理仪器,全国任意地可物流代收
    美国泰克TEKTRONIX370A,晶体管图示仪TEK370B
    TEK370A晶体管测试仪的详细介绍:
    带宽:500MHz 
    通道数:4ch 
    同步采样率/通道:1  GSa/s 
    单通道采样率:2GSa/s 
    记录长度:50000ptc 
    小垂直灵敏度:1  mV/div 
    垂直灵敏度:10  V/div 
    上升时间:700  ps 
    位数:8  bits 
    输入阻抗:1  Mohm 
    输入耦合:AC,DC,GND 
    输入电压:400  Vrms 
    ***主时基:500  ps/div 
    主时基:10  s/div 
    时基精度:0.0025  % 
    触发源:外置,内置 
    触发模式:Auto,Edge,Logic,Normal,Pulse,Single 
    显示类型:Color  LCD 
    显示尺寸:17.78  cm 
    程控特性/接口特性 
    接口:Centronics,GPIB,RS232 
    程控语言:Windows
    深圳数字源表收购
    泰克/TEKTRONIX 370晶体管测试仪TEK370回收
    主要参数:·半导体器件高精度测量
    -上限达2000V或电流到10A的源(370A)
    -上限到3000V(371A)
    -上限到220W(370A)
    -上限到400A(371A)
    -1nA的测量分辨率
    -上限到3000W(371A)
    ·上限到2mV的测量分辨率(370A)
    ·波形对比
    ·包络显示
    ·波形平均
    ·点光标(370A)
    ·Kelvin传感测量
    ·全程控
    ·MS-DOS兼容的软盘,方便设置参孝存储和调用
    应用
    手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量
    来料检查
    生产测试
    过程监视及质量控制
    数据报告的生成
    元件配对
    失效分析
    工程测试
    交互式程
    所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的**板或GPIB来完成的。使用几种存储方式,调整和存储操作参数,包括370A的非
    易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。
    测试夹具
    测试夹具是标准附件,它提供被测器件安全防护,以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001,中间通过Kelvin传
    感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。
    370A程控特性曲线图示仪
    370A是**的高分辨率特性曲线图示仪,可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管
    、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。
    在研发实验室,用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作
    在制造过程中,用370A检验器件质量及过程监视。
    370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。
    技术指标 集电极电源 模式 AC,±DC,±泄露,±整流的正弦波 范围 峰值电流(±) 峰值电流(脉冲式)(±) 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 阶梯信号发生器 模式 阶梯:DC,80μS脉冲,300μS脉冲 阶梯量程-   电流: 50nA到200mA,按1-2-5顺序 电压: 50mV到2V,按1-2-5顺序 偏置 到±10X阶梯幅度 阶梯数 0到10 测量特性 集电极电流-   测试量程: 100nA/div(1nA分辨率)至2A/div误差,1.5%光标读出+0.05div设定值(点光标) 发射较电流-   测试量程: 1nA/div(10pA分辨率)至2mA/div 误差 1.5%光标读出+0.05div设定值+1nA 安全标准 UL1244,CSA231,HD401S1
    深圳数字源表收购
    问:什么是有载测试?
       答:故名思意 有载测试即在芯片测试中芯片的每个输出管脚都加有一定负载,使其并非工作在空载状态,较接近芯片在实际电路中的工作状态。有负载测试相对于空载测试的意义在于可以测试出驱动能力下降、功能正常但老化、弱击穿等软故障芯片。编程器普遍采用空载测试,集成电路测试仪一般采用有载测试,大型测试仪较是采用多负载可变阻抗测试精度较高。
    深圳数字源表收购
    XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍
    1. 集电极电源极性按钮,极性可按面板指示选择。
    2. 集电极峰值电压保险丝:1.5A。
    3. 峰值电压%:峰值电压可在0~10V、0~50V、0~100V、0~500V之连续可调,面板上的标称值是近似值,参考用。
    4. 功耗限制电阻:它是串联在被测管的集电极电路中,限制**过功耗,亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。
    5. 峰值电压范围:分0~10V/5A、0~50V/1A、0~100V/0.5A、0~500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时,须先将峰值电压调到零值,换挡后再按需要的电压逐渐增加,否则容易击穿被测晶体管。
    AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描,以便能同时显示器件正反向的特性曲线。
    6. 电容平衡:由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容,都将形成电容性电流,因而在电流取样电阻上产生电压降,造成测量误差。为了尽量减小电容性电流,测试前应调节电容平衡,使容性电流减至小。
    7. 电容平衡:是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称,而再次进行电容平衡调节。
    8. 电源开关及辉度调节:旋钮拉出,接通仪器电源,旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。
    9. 电源指示:接通电源时灯亮。
    10. 聚焦旋钮:调节旋钮可使光迹清晰。
    11. 荧光屏幕:示波管屏幕,外有座标刻度片。
    12. 聚焦:与聚焦旋钮配合使用。
    13. Y轴选择(电流/度)开关:具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基较电压、基较电流和外接的不同转换。
    14. 电流/度&TImes;0.1倍率指示灯:灯亮时,仪器进入电流/度&TImes;0.1倍工作状态。
    15. 垂直移位及电流/度倍率开关:调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出,放大器增益扩大10倍,电流/度各挡IC标值&TImes;0.1,同时指示灯14亮。
    16. Y轴增益:校正Y轴增益。
    17. X轴增益:校正X轴增益。
    18.显示开关:分转换、接地、校准三挡,其作用是:
    ⑴转换:使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换,便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。
    ⑵接地:放大器输入接地,表示输入为零的基准点。
    ⑶校准:按下校准键,光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度,以达到10度校正目的。
    19. X轴移位:调节光迹在水平方向的移位。
    20. X轴选择(电压/度)开关:可以进行集电极电压、基较电流、基较电压和外接四种功能的转换,共17挡。
    21. “级/簇”调节:在0~10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。
    22. 调零旋钮 :测试前,应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。当荧光屏上已观察到基较阶梯信号后,按下测试台上选择按键“零电压”,观察光点停留在荧光屏上的位置,复位后调节零旋钮,使阶梯信号的起始级光点仍在该处,这样阶梯信号的零电位即被准确校正。
    23. 阶梯信号选择开关:可以调节每级电流大小注入被测管的基较,作为测试各种特性曲线的基较信号源,共22挡。一般选用基较电流/级,当测试场效应管时选用基较源电压/级。
    24. 串联电阻开关:当阶梯信号选择开关置于电压/级的位置时,串联电阻将串联在被测管的输入电路中。
    25. 重复--关按键:弹出为重复,阶梯信号重复出现;按下为关,阶梯信号处于待触发状态。
    26. 阶梯信号待触发指示灯:重复按键按下时灯亮,阶梯信号进入待触发状态。
    27. 单簇按键开关:单簇的按动其作用是使预先调整好的电压(电流)/级,出现一次阶梯信号后回到等待触发位置,因此可利用它瞬间作用的特性来观察被测管的各种极限特性。
    28. 极性按键:极性的选择取决于被测管的特性。
    29. 测试台
    注:本公司长期回收/销售二手仪器,维修实力雄厚,自主元件级维修综合测试仪,网络分析仪,高频信号源,频谱仪,示波器,失真仪,功率计,彩色信号发生器,函数信号发生器,直流电子负载,信纳仪,调制度表,安规测试仪,音频分析仪,毫伏表,扫频仪,频率计,电桥,电话机测试仪等等。
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    主要经营频谱分析仪。
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