数字IC测试仪产品简介: 集成电路测定仪可对器件好坏判别,型号判别,老化测试,器件代换查询,内部RAM数据修改,EPROM、EEPROM器件读出写入。 数字IC测试仪适用范围: 1.维修各类电子产品,判断其集成电路故障。 2.破译被抹去型号集成电路的真实型号。 3.烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。 4.开发各类智能电子产品,调试程序。 5.检验新购器件的质量。 数字IC测试仪功能特点: 1.器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判别其逻辑功能好坏。 2.器件型号识别:当不知被测器件的型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。 3.器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试。 4.器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能一致,引脚排列一致的器件型号。 5.内部RAM缓冲区修改:仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。 6.微机通讯:仪器可通过串行口接受来自微机的数据。 7.ROM器件读入:仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。 9.ROM器件写入:仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。 数字IC测试仪主要参数: 电源电压:AC220V±15%,50HZ。 整机功耗:15VA。 测试电压:3.3V,5.0V,9.0,15V。 编程电压:12.5V,21V。 测试脚数:DIP封装40脚;SOP封装20脚(须另购适配器)。 输入位数:3——6位。 适用温度:0——40℃。 测试规范:输入短路测试;输出短路测试;**功能测试。 输出高电平VOH:大于2.8V(VT=5.0V)。 输出低电平VOL:小于0.7V(VT=5.0V)。 输入高电平VIH:大于4.5V(VT=5.0V)。 输入低电平VIL:小于0.2V(VT=5.0V)。 数字IC测试仪主要构成: 1.CPU:MCS51系列产品89C52;主频:11.059M。 2.程序存储器:128K EPROM。 3.RAM缓冲区:128K静态RAM。 4.显示器:8位液晶显示器。 5.操作键盘:20位轻触式按键键盘。 6.输出:七只LED+八位液晶显示+声音提示。 7.机箱:全塑结构机箱。 数字IC测试仪随机附件: 主机 1台 产品说明书 1本 特殊器件测试板 1块 产品保修单 1份 连接插针 2根 通讯光盘 1张 通讯电缆 1根 电源线 1根 适用范围 : 测定仪 ; 规格 : 485*310*298 ; 型号 : NICT-33C ; ** : 中慧 ; 加工定制 : 是 ;
中慧天诚是一家集仪器表供应,技术服务,售后一体化的仪器仪表供应商。自创建以来,以“*服务,诚信**”为经营理念,**了客户的一致认可。本着“质量是生命,服务是根基”的创业理念,*众长,坚持以品质为先,以服务取胜! 公司销售网络遍布全国,为国内外企业客户提供**的国产及进口工业仪器设备。较大化压缩商品物流环节,大大降低客户采购成本,力争成为业内**工业品集成供应商。 公司以技术为先导,在得到广大客户认可的同时,业务能力也得到了的发展,积累了丰富的行业经验力,经营规模不断扩大,不断成长为一家综合性的仪器仪表供应商。 随着公司的不断成长、壮大,公司将继续以服务社会为己任,我们始终本着“质量是生命,服务是根基”的创业理念,坚持以品质为先,以服务取胜!我们竭诚的开展了技术咨询和维修服务工作,北京响应时间为8小时,外地响应时间不**过24小时,凡本公司所售出设备一年内全**维修,终身维修。我们深信,只有站在客户的立场,为客户提供较好的*的**设备。以支持客户的业务和发展,才能较终获得双羸!